當(dāng)前位置:湖南艾克賽普測(cè)控科技有限公司>>半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案>>SoC 測(cè)試系統(tǒng)>> Chroma 3650-CX SoC測(cè)試系統(tǒng)
Chroma 3650-CX SoC測(cè)試系統(tǒng)的軟體測(cè)試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform),是一個(gè)結(jié)合工程 開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部 份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò) 模組以及測(cè)試機(jī)臺(tái)管理模組。透過(guò)親切的圖形 人機(jī)介面的設(shè)計(jì),CRISP提供多樣化的開發(fā)與除 錯(cuò)工具,包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 軟體模組,可滿足研發(fā)/測(cè)試工程師開發(fā)程式時(shí) 的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時(shí)的需求。
All-in-One小型化機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)節(jié)省占地面積
3650-CX將所有的測(cè)試儀器模組與機(jī)臺(tái)的電源系 統(tǒng)全部整合在單一個(gè)測(cè)試頭的空間里,并且采用 氣冷式的設(shè)計(jì)。透過(guò)如此高整合度的小型化設(shè) 計(jì),可以大幅減少機(jī)臺(tái)的占地面積,以節(jié)省整體 的測(cè)試成本。
周邊設(shè)備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面 (TTL & GPIB) , 可進(jìn)行與晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī), 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。
Chroma 3650-CX SoC測(cè)試系統(tǒng)的特色:
- 50/100MHz測(cè)試工作頻率
- 256個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
- 16/32 MW vector 記憶體
- 16/32 MW pattern instruction 記憶體
- Multi-site 測(cè)試可達(dá) 32 sites
- 16個(gè) DPS 通道
- 8個(gè) PMU 通道
- Per-Pin 時(shí)序頻率測(cè)試單位
- 大可選購(gòu)1024M bit x 4 CH scan depth
- 可選購(gòu)記憶體測(cè)試用ALPG
- 高達(dá) 16 high-voltage pins
- 16 個(gè)高性能 DPS 通道
- 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
- 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
- Windows® XP操作環(huán)境
- C++ 程式語(yǔ)言與圖形人機(jī)介面設(shè)計(jì)
- 采用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
- 與周邊設(shè)備相容性高
- All-in-One小型化氣冷式機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì),節(jié)省占地面積
- Cable Mount / Direct Mount